XIV. COMENTARIOS FINALES
EN EL desarrollo de nuestro relato se expuso la forma en la que
los cient�ficos han podido encontrar diferentes propiedades microsc�picas de
sustancias cristalinas, l�quidos, vidrios, etc., aplicando conocimientos obtenidos
de varios campos de la f�sica. Este trabajo detectivesco ha requerido del concurso
de mucha gente a partir del momento en que se hicieron las primeras preguntas
sobre c�mo estaba construida la materia. La labor que se llev� a fin fue una
inferencia inteligente, en la que se ataron muchos cabos para poder llegar a
conclusiones concretas. La base esencial por la que ha tenido �xito es que la
estructura microsc�pica de una sustancia, de alguna manera, se desenmascara
al entrar en interacci�n con ondas o part�culas. El resultado de esta interacci�n
es que al salir estas ondas o part�culas de la muestra llevan contenida informaci�n
acerca de las caracter�sticas de las sustancias que se desea analizar. As� por
ejemplo, hemos visto que la interacci�n de rayos X con los
�tomos o mol�culas que componen un cristal da lugar a un patr�n de difracci�n
que contiene la informaci�n acerca de la estructura geom�trica en que se hallan
dispuestos dichos �tomos o mol�culas en la muestra bajo estudio.
La idea de hacer incidir haces ya sea de rayos X o de neutrones sobre una muestra consiste en meter en la sustancia sondas para que "vean" lo que hay dentro de ella. Es justamente la informaci�n que llevan a su salida la que debemos extraer y darle sentido. Por supuesto que la sonda que se introduzca debe ser la apropiada para que se pueda registrar el fen�meno que se quiere analizar. Como se hizo ver ampliamente, de todas las posibles ondas electromagn�ticas son justamente los rayos X las sondas apropiadas para los prop�sitos de encontrar estructuras. Si se usan neutrones, los id�neos son los lentos.
Nos hemos dedicado a hablar acerca de los principios f�sicos en que se basan los cient�ficos para obtener las conclusiones sobre las estructuras y otras caracter�sticas de las sustancias. Hemos de a�adir que una vez entendidas estas bases y convencidos de su exitosa aplicaci�n, se han desarrollado t�cnicas rutinarias para la identificaci�n de estructuras de sustancias. Una vez que se conocen los patrones de difracci�n por rayos X de cristales, se recopilan sistem�ticamente en algo an�logo a tablas de referencia. As�, al analizarse una muestra cuya estructura es desconocida, se compara su patr�n de difracci�n por rayos X con los ya conocidos y as� es como se puede saber cu�l es la estructura de la muestra. De esta manera se tiene una especie de cat�logo de "huellas digitales" con las que se puede identificar estructuras de sustancias. Este tipo de identificaci�n tiene muchas aplicaciones tanto cient�ficas como industriales.
Hemos llegado al final de nuestra exposici�n en la que se ha mostrado una bella experiencia de la historia de la ciencia. Esperamos que el lector haya tenido una placentera y fruct�fera lectura, que le haya interesado y le sirva de est�mulo para continuar inform�ndose sobre estos temas cient�ficos.
